반도체 연구 일지

DRAM(Dynamic Random Access Memory)의 종류/구분일반적인 DRAM에서 구조적으로 발전되어 RCAT, S-RCAT, S Fin, BCAT, VCAT 등과 같은 DRAM의 구조적인 종류도 다양하지만, Logic적인 측면에서 DRAM을 구분 할 수 있습니다.​DRAM은 컴퓨터에서 주기억장치로 사용되면서 메모리 소자로 사용되기 때문에, CPU와 정보를 주고 받으면서 데이터의 입출력 동작을 수행합니다.​이때 DRAM에 주어진 명령어가 받아들여지는 시점이 존재하고 이는 CLK(Clock)을 통해 결정되는데, CPU와 동일한 CLK을 공유하는 Synchronous-DRAM​과 그렇지 않은 Asynchronous-DRAM으로 구분 할 수 있습니다.  SRAM(Synchronous DRAM)SD..

DRAM은 현재 반도체 시장에서 Logic 반도체와 더불어 가장 중요한 메모리 반도체의 한 종류이다.메모리 반도체를 보통 휘발성인 Volatile과 비휘발성인 non-Volatile 메모리로 구분되고 DRAM은 휘발성 메모리의 일종이다.그럼 메모리 소자의 중심에 있는 DRAM에 대해서 한 번 자세히 정리 해보자.DRAM의 구조DRAM의 구조는 가장 간단하다. 1Transistor 1Capacitor 흔히 그냥, ​1T 1C 라고 한다. (SRAM은 6T구조)위 사진에서 보이는 것 처럼, Transistor가 하나 존재하고 전하를 저장하는 Capacitor가 존재한다. Capacitor에는 전하가 저장되고 방출되면서 데이터 1과 0의 1bit를 나타낼 수 있게 된다.Capacitor에 전하가 저장되어 데이..

Ellipsometer(일립소미터) 장점Ellipsometer, 또는 Ellipsometry는 굉장히 간단하고 빠른측정비기 때문에 반도체 분석, 박막 분석에 자주 사용이 되는 장비입니다. 뿐만아니라 비파괴적인 방식이고 Darkroom(암식)을 필요로 하지 않습니다. 대부분의 반도체 장비들이 진공을 요구하는 것과 달리 진공이 필요한 장비도 아니구요. 그래서 반복해서 여러차례 분석을 진행하여도 무리가 없습니다.위 장점중에서 그래도 가장 큰 장점은 빠른 것입니다. 장비에 올려놓은 샘플을 클릭 몇번으로 두께와 같은 데이터를 얻을 수 있으니 굉장히 유용합니다. 그리고 기타 다른 두께를 측정하는 장비에 비해서도 굉장히 높은 재현성과 정확도를 가지고 있습니다. TEM으로 샘플의 단면을 확인하여 두께를 측정하지 않는 ..

SIMS는 Secondary Ion Mass Spectroscopy라고 합니다.이차 이온 질량 분석기라고 부르고 Spectroscopy니깐 당연히 분광기로 활용을 합니다.SIMS(Secondary Ion Mass Spectroscopy) 원리 MechanismSIMS는 Ion gun에서 나온 일차이온(Primary ion)을 샘플에 주사하게 되면, Sputtering으로 인해 이차 이온(Secondary Ion)이 발생하게 됩니다. 그리고 이때, 발생한 Secondary ion을 이용해서 Mass Anaylzer로 분석을 하여 분광기로 활용을 하는 방식입니다.한 마디로, SIMS는 Sputtering 현상을 이용해서 표면을 깍으면서 발생하는 sample의 이차 이온을 통해 분석을 하는 것입니다. samp..